Contact Force Experiments and Deformation Analyses of a Cobra Needle Used in Vertical Wafer Probe Card

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題名:	Contact Force Experiments and Deformation Analyses of a Cobra Needle Used in Vertical Wafer Probe Card
作者:	Chiu, Jinn-Tong Chang, Dar-Yuan
貢獻者:	機械工程學系
關鍵詞:	Contact force Finite element analysis Image processing Vertical wafer probe card Wafer testing
日期:	2021-10
上傳時間:	2023-03-23 13:12:36 (UTC+8)
關聯:	Journal of the Chinese Society of Mechanical Engineers, Transactions of the Chinese Institute of Engineers, Series C/Chung-Kuo Chi Hsueh Kung Ch'eng Hsuebo Pao卷 42, 期 5, 頁 501 - 507 October 2021
顯示於類別:	[機械工程系暨機械工程學系數位機電研究所] 期刊論文

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