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    題名: A new probe design combining finite element method and optimization used for vertical probe card in wafer probing
    作者: 張達元等著
    貢獻者: 人事室
    日期: 2009
    上傳時間: 2019-03-07 13:43:24 (UTC+8)
    摘要: 複印本.
    原載於Precision Engineering, Volume 33, Issue 4, October 2009, Pages 395-401 .
    內容為英文.
    關聯: 446 1131-5P B00879499 總館4F流通股辦公室
    顯示於類別:[機械工程系暨機械工程學系數位機電研究所] 教師升等著作

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