English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 46833/50693 (92%)
造訪人次 : 11846654      線上人數 : 737
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧：
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號"，以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋，建議至進階搜尋限定作者欄位，可獲得較完整資料
    •  進階搜尋
    主頁 ‧ 登入 ‧ 上傳 ‧ 說明 ‧ 關於CCUR ‧ 管理 到手機版


    請使用永久網址來引用或連結此文件: https://irlib.pccu.edu.tw/handle/987654321/3349


    題名: 使用各種基於鬆弛演算法在金氧半電路中計算傳輸線效應
    其他題名: Transmission Line Effect Calculation in MOSFET Circuits Using Various Relaxation-based Algorithms
    作者: 陳俊榮
    貢獻者: 資科系
    關鍵詞: 傳輸線
    線路模擬
    基於鬆弛法
    大型電路
    日期: 2000-06
    上傳時間: 2010-06-01 10:25:03 (UTC+8)
    摘要: 在篇論文整合一個時域的傳輸線計算法和數個基於鬆弛法線路模擬演算法，然後討論在含有傳輸線之大型電路中，計算暫態響應之情形。有許多實驗結果佐證所題方法之優越效能。
    關聯: 華岡工程學報 14期 P.95-105
    顯示於類別:[資訊工程學系] 期刊論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbText2005檢視/開啟


    在CCUR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋