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[資訊工程學系] 期刊論文
2019-10
Deep-Learning-Based Defective Bean Inspection with GAN-Structured Automated Labeled Data Augmentation in Coffee Industry
Chou, YC (Chou, Yung-Chien)
;
Kuo, CJ (Kuo, Cheng-Ju)
;
Chen, TT (Chen, Tzu-Ting)
;
Horng, GJ (Horng, Gwo-Jiun)
;
Pai, MY (Pai, Mao-Yuan)
;
Wu, ME (Wu, Mu-En)
;
Lin, YC (Lin, Yu-Chuan)
;
Hung, MH (Hung, Min-Hsiung)
;
Su, WT (Su, Wei-Tsung)
;
Chen, YC (Chen, Yi-Chung)
;
Wang, DC (Wang, Ding-Chau)
;
Chen, HC (Chen, Hao-Chun)
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